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產(chǎn)品應(yīng)用

專注機(jī)器視覺(jué)工業(yè)檢測(cè) Applications

視覺(jué)算法工具庫(kù) 靈閃視覺(jué)通用平臺(tái) 靈閃AI平臺(tái) 半導(dǎo)體先進(jìn)封裝 鋰電池視覺(jué)檢測(cè) 薄膜表面缺陷檢測(cè) 晶硅電池檢測(cè)

  • 視覺(jué)算法工具庫(kù)

    Leaper Vision Toolkit (LPV) 是為各個(gè)工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域的機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用而設(shè)計(jì)利珀機(jī)器視覺(jué)算法開(kāi)發(fā)工具包SDK，目前涵蓋100+個(gè)2D模塊和3D模塊。

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  • 靈閃視覺(jué)通用平臺(tái)

    靈閃視覺(jué)通用平臺(tái)（英文名IntelliBlink）可快速高效構(gòu)建機(jī)器視覺(jué)解決方案，簡(jiǎn)化機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜度。用戶無(wú)需編寫(xiě)任何代碼，只需通過(guò)將各種算法工具進(jìn)行組合，即可實(shí)現(xiàn)各種定位測(cè)量任務(wù)。

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  • 靈閃AI平臺(tái)

    利珀靈閃AI平臺(tái)提供完備可靠的深度學(xué)習(xí)體系，整合高效快速的樣本生成功能，既不依賴大量樣本，也無(wú)需持續(xù)投入，著眼工業(yè)客戶復(fù)雜緊迫的應(yīng)用場(chǎng)景，快速提供缺陷檢測(cè)方案。

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  • 半導(dǎo)體先進(jìn)封裝

    利珀科技的 Die Bonding AOI檢測(cè)系統(tǒng)，以多模態(tài)光學(xué)檢測(cè)矩陣和智能算法為核心，從表面到內(nèi)部全方位守護(hù)Flip Chip封裝質(zhì)量。系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)定位，捕捉微米級(jí)缺陷，支持超高速15K+在線檢測(cè)及多流道串并聯(lián)檢測(cè)。

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  • 鋰電池視覺(jué)檢測(cè)

    利珀科技可配置視覺(jué)系統(tǒng)在鋰電池生產(chǎn)全工藝段均有廣泛應(yīng)用。目前我司在原材料段?銅、鋁箔、隔膜的缺陷檢測(cè)；制片段?涂布，分切工序的缺陷檢測(cè)以及幅寬測(cè)量；電芯段?模切機(jī)、疊片機(jī)、切疊一體機(jī)；PACK 段?視覺(jué)引導(dǎo)焊接等，均能為客戶提供量身定制的視覺(jué)檢測(cè)方案。

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  • 薄膜表面缺陷檢測(cè)

    平面材料表面缺陷檢測(cè)儀 可對(duì)平面材料存在的異點(diǎn)、顆粒、凹陷、破損、橫紋、豎紋、涂布不均、劃痕、裂痕、裂紋等幾十種缺陷進(jìn)行智能識(shí)別，精確記錄平面材料表面缺陷的位置信息，將所記錄的缺陷大小和位置以報(bào)表的形式呈現(xiàn)并打印。

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  • 晶硅電池檢測(cè)

    利珀科技自主研發(fā)的LP solar系列，可針對(duì)晶硅電池全流程制成工藝提供系統(tǒng)完善的機(jī)器視覺(jué)工業(yè)底層技術(shù)數(shù)據(jù)技術(shù)檢測(cè)解決方案，把控產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)反饋工藝流程，管理生產(chǎn)效率，實(shí)現(xiàn)“機(jī)器換人”的升級(jí)。

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新聞資訊

News

喜訊！利珀科技獲“浙江省重點(diǎn)企業(yè)研究院”認(rèn)定

浙江省經(jīng)濟(jì)和信息化廳發(fā)布2025年度省級(jí)企業(yè)研究院認(rèn)定名單，利珀科技申報(bào)的“浙江省機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)重點(diǎn)企業(yè)研究院”成功入圍，被認(rèn)定為“浙江省重點(diǎn)企業(yè)研究院”。

正式更名！杭州利珀科技股份有限公司

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關(guān)于我們

about us

杭州利珀科技專注于機(jī)器視覺(jué)工業(yè)檢測(cè)解決方案，以自研光學(xué)成像系統(tǒng)、機(jī)器視覺(jué)算法和圖形化算法集成開(kāi)發(fā)平臺(tái)為技術(shù)核心，針對(duì)制程過(guò)程中的產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測(cè)、生產(chǎn)流程追溯、制造工藝優(yōu)化和高精度機(jī)械定位引導(dǎo)提供解決方案。

  • 公司成立于

  • 專業(yè)優(yōu)秀人才

  • 研發(fā)人員占比

  • 項(xiàng)國(guó)家專利

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